如何使用CONTPt AFM 针尖在带有 Nanoscope® 软件的 Bruker® 系统上进行接触模式的AFM 测量 - NanoWorld®

Pointprobe® AFM tip sideview image

这是关于如何在接触模式中使用相应的 NanoWorld® AFM 探针来设置和扫描的使用方法分步说明。

本说明适用于以下 NanoWorld®接触模式 AFM 探针:

  • Arrow™ CONT
  • Arrow™ CONTR
  • CONTR
  • CONTSCR
  • CONT
  • ESP
  1. 步骤

  2. 第一步:安装AFM探针并选择AFM实验

    • 将 AFM 探针安装到 AFM 探针支架上
    • Choose an Experiment Category 当中选择 Contact Mode
    • Select Experiment Group 当中选择 Contact Mode in Air
  3. 第二步:选择AFM探针

    • Contact Mode in Air 模式下选择 Setup
    • Probe I'll be using 中选择 New Probe of type
    • 从下拉菜单中选择 ESP
  4. 第三步:调整激光

    • 在 Contact in Air 中选择 Setup
    • 调整 AFM 悬臂上的激光
    • 调整探测器上的激光
    • 最大化 SUM 信号
  5. 第四步:聚焦样品 / AFM 针尖反射

    • Contact in Air 模式下选择 Navigate
    • Focus Sample中选择 Sample (default) Tip Reflection
    • 通过移动扫描分别聚焦在样品上,分别在AFM针尖反射上头向上或向下
  6. 第五步:设置扫描尺寸并使用 AFM 探针

    • Contact in Air  模式下选择 Check Parameters
    • 调整 Scan Size
    • 选择 Engage
  7. 第六步:扫描样品,检查和调整扫描参数

    • 扫描样本
    • 如果需要,扫描样品检查并调整 Scan Size
    • 如果需要,检查并调整 Scan Rate(即扫描速度)
    • 如果需要,检查并调整 Integral Gain Proportional Gain

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