如何使用 Arrow™ EFM AFM 针尖在带有 Nanoscope® 软件的 Bruker® 系统上进行电动和磁性升降模式的 AFM 测量 - NanoWorld®

Pointprobe® AFM tip sideview image

这是关于如何在电动和磁性升降模式使用相应的 NanoWorld® AFM探针来设置和扫描的使用方法分步说明。

本说明适用于以下NanoWorld ®电动磁性升降模式 AFM 探针:

  • EFM
  • Arrow™ EFM
  • CONTPt
  • Arrow™ CONTPt
  1. 步骤

  2. 第一步:安装AFM探针并选择AFM实验

    • 将 AFM 探针安装到 EFM 探针支架上
    • Choose an Experiment Category 当中选择 Electrical & Magnetic
    • Select Experiment Group 当中选择 Electrical & Magnetic Lift Modes
    • Select Experiment 当中选择 MFM & EFM Phase & Frequency
  3. 第二部:选择AFM探针

    • MFM & EFM Phase & Frequency 中选择 Setup
    • Probe I'll be using 中选择 New Probe of type
    • 从下拉菜单中选择 MESP/SCM-PIT
  4. 第三步:调整激光和调谐AFM悬臂

    • MFM & EFM Phase & Frequency 中选择 Setup
    • 调整 AFM 悬臂上的激光
    • 调整探测器上的激光
    • 最大化检测器激光的SUM 信号
    • 调整 AFM 悬臂
  5. 第四步:聚焦样品 / AFM 针尖反射

    • MFM & EFM Phase & Frequency 中选择 Navigate
    • Focus Sample 中选择 Sample (default)  Tip Reflection
    • 通过移动扫描分别聚焦在样品上,分别在AFM针尖反射上头向上或向下
  6. 第五步:设置扫描尺寸并使用 AFM 探针

    • MFM & EFM Phase & Frequency 选择 Check Parameters
    • 调整 Scan Size
    • 选择 Engage
  7. 第六步:扫描样品,检查和调整扫描参数

    • 扫描样本
    • 如果需要,检查并调整 Scan Size
    • 如果需要,检查并调整 Scan Rate (即扫描速度)
    • 如果需要,检查并调整 Integral Gain Proportional Gain

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