如何使用 EFM AFM 针尖在带有 Nanoscope® 软件的 Bruker® 系统上进行电动和磁性升降模式的 AFM 测量 - NanoWorld®

第一步：安装AFM探针并选择AFM实验

• 将 AFM 探针安装到 EFM 探针支架上
• 在 Choose an Experiment Category 当中选择 Electrical & Magnetic
• 在 Select Experiment Group 当中选择 Electrical & Magnetic Lift Modes
• 在 Select Experiment 当中选择 MFM & EFM Phase & Frequency

第二部：选择AFM探针

• 在 MFM & EFM Phase & Frequency 中选择 Setup
• 在 Probe I'll be using 中选择 New Probe of type
• 从下拉菜单中选择 MESP/SCM-PIT

第三步：调整激光和调谐AFM悬臂

• 在 MFM & EFM Phase & Frequency 中选择 Setup
• 调整 AFM 悬臂上的激光
• 调整探测器上的激光
• 最大化检测器激光的SUM 信号
• 调整 AFM 悬臂

第四步：聚焦样品 / AFM 针尖反射

• 在 MFM & EFM Phase & Frequency 中选择 Navigate
• 在 Focus Sample 中选择 Sample (default) 或 Tip Reflection
• 通过移动扫描分别聚焦在样品上，分别在AFM针尖反射上头向上或向下

第五步：设置扫描尺寸并使用 AFM 探针

• 在 MFM & EFM Phase & Frequency 选择 Check Parameters
• 调整 Scan Size
• 选择 Engage

第六步：扫描样品，检查和调整扫描参数

• 扫描样本
• 如果需要，检查并调整 Scan Size
• 如果需要，检查并调整 Scan Rate （即扫描速度）
• 如果需要，检查并调整 Integral Gain 和 Proportional Gain