NanoWorld® Pointprobe® MFM探针® MFM 探针是专为磁性力调制显微镜而设计的。 MFM 型的力常数和特殊的硬磁针尖侧面涂层针对此类应用进行了优化。这种类型的探针具有非常高的力灵敏度，同时能够实现敲击和提升模式操作。

Pointprobe ®系列的所有 SPM 和 AFM 探针由单片硅制成，高度掺杂以消散静电荷。它们具有化学惰性，并提供高机械 Q 因子以实现高灵敏度。针尖的形状类似于基于多边形的金字塔，典型高度为 10 - 15 µm。

此外，该探针具有独特的功能：

• 典型的针尖曲率半径＜ 50nm
• 高磁对比度和横向分辨率
• 100nm
• 导电涂层

悬臂的梯形横截面和因此以30%（例如 NCH）更宽的悬臂探测器侧导致更容易和更快的激光调整。此外，因为有更多的空间来放置和反射激光束，所以可以达到更高的 SUM 信号。

硬磁涂层/铝反射涂层

硬磁涂层由 40 nm 厚的钴合金层组成，沉积在悬臂的针尖侧面，导致针尖的永久磁化方向通常沿着针尖轴。我们建议在测量前使用强磁铁（例如 NdFeB 磁铁，尺寸为几毫米）对针尖进行磁化。

沉积在悬臂检测器侧的铝反射涂层增强了反射率激光束并防止光在悬臂内干扰。

由于涂层几乎没有应力，因此由于应力引起的悬臂弯曲小于 2 度。