类型: SEIHR

SEIKO 仪器显微镜 - 非接触模式 - 力常数 - 反射涂层

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悬臂数据 数值 范围*
共振频率 130 kHz 110 - 150 kHz
力常数 15 N/m 9 - 25 N/m
长度 225 µm 220 - 230 µm
评价宽度 33 µm 27.5 - 37.5 µm
厚度 5 µm 4.5 - 5.5 µm
Point Probe AFM tip

Point Probe AFM tip

产品说明

NanoWorld® Pointprobe® SEIHR 探针是专为使用非接触模式的精工仪器显微镜的所有者而设计。Pointprobe® 系列的所有 SPM 和 AFM 探针均由单片硅制成,该硅经过高度掺杂以消散静电荷。它们是化学惰性的,并提供高机械 Q 因子以实现高灵敏度。这些探针形状类似于基于多边形的金字塔,典型高度为 10 - 15 µm。

此外,这探针的针尖曲率半径小于 8 nm。

Image 悬臂的梯形横截面和因此以30%(例如 NCH)更宽的悬臂探测器侧导致更容易和更快的激光调整。此外,因为有更多的空间来放置和反射激光束,所以可以达到更高的 SUM 信号。

探针形状: 标准

涂层: 反射铝

铝反射涂层

铝反射涂层由 30 nm 厚的铝层组成,该铝层沉积在悬臂的检测器一侧,可将激光束的反射率提高 2.5 倍。此外,它可以防止光干扰悬臂梁。

订购代码

订购代码 数量 数据表
SEIHR-10 10
SEIHR-20 20
SEIHR-50 50
SEIHR-W 380

NanoWorld® Pointprobe® 硅 AFM 探针视频截屏(标准探针)

欲了解更多信息,请联系:info@nanoworld.com

Pointprobe® 是NanoWorld AG

所有数据如需要更改,不另行通知。

NanoWorld AG
Rue des Saars 10
CH-2000 Neuchâtel,
Switzerland
www.nanoworld.com

有关我们的 AFM 探针产品系列的详细信息,请参阅以下内容::