NanoWorld® Pointprobe® ZEILR 探针是专为 Zeiss Veritekt 或 Seiko 仪器显微镜使用接触模式的用户而设计的。与 Pointprobe ® 相比CONT 型接触模式探针的力常数略有增加。

Pointprobe ®系列的探针由单片硅制成，高度掺杂以消散静电荷。它们是化学惰性的，并提供高机械 Q 因子以实现高灵敏度。针尖形状像基于多边形的金字塔，高度为 10 - 15 微米。

此外，这探针提供小于 8 nm 的典型针尖曲率半径。

悬臂的梯形横截面和因此以30%（例如 NCH）更宽的悬臂探测器侧导致更容易和更快的激光调整。此外，因为有更多的空间来放置和反射激光束，所以可以达到更高的 SUM 信号。

铝反射涂层

铝反射涂层由 30 nm 厚的铝层组成，该铝层沉积在悬臂的检测器一侧，可将激光束的反射率提高 2.5 倍。此外，它可以防止光干扰悬臂梁。